3360-P VLSI測試系統(tǒng)

更新時間：2024-11-10

簡要描述：

3360-P VLSI測試系統(tǒng)
主要特色：
?25/50 MHz 測試頻率
?25/50 Mbps data rate
?256 logic I/O pins
?8M （標準） /16M （選購） Pattern 記憶體
?彈性化硬體結構（互換式 I/O, VI, ADDA, and LCD

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3360-P VLSI測試系統(tǒng)

主要特色：

25/50 MHz 測試頻率
25/50 Mbps data rate
256 logic I/O pins
8M (標準) /16M (選購) Pattern 記憶體
彈性化硬體結構 (互換式 I/O, VI, ADDA, and LCD)
平行測試可達 32 devices
Real parallel Trim/Match 功能
時序頻率測試單位 Time & Frequency Measurement Unit (TFMU)
測試程式/pattern 轉換器 (V7, TRI6020, V50, E320, SC312, D10,J750, ITS9K, TS670 )
AD/DA卡選配 (16 ~24 bits)
SCAN 測試選配 (max 512M/chain)
ALPG 測試選配供記憶體用
STDF 工具支援
人性化 Windows XP 操作環(huán)境
CRAFT C/C++ 程式語言

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主營產(chǎn)品：模擬制式信號發(fā)生器TG39BX（54200）,DVB-T2數(shù)字信號發(fā)生器SFU（MSD5000A）,CA-410（CA310）色彩分析儀

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3360-P VLSI測試系統(tǒng)

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